冷熱循環測試機與半導體高低溫沖擊試驗箱均是常用于半導體行業及半導體產品、材料、配件做在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度,藉以在*短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。

冷熱循環測試機技術參數：

型號：2AP-TS-27  內箱尺寸：300*300*300mm（寬*高*深）

型號：2AP-TS-50  內箱尺寸：350*400*350mm（寬*高*深）

型號：2AP-TS-80  內箱尺寸：400*500*400mm（寬*高*深）

型號：2AP-TS-150  內箱尺寸：500*600*500mm（寬*高*深）

溫度范圍：-40℃~150℃、-55℃~150℃、-65℃~150℃

測試室溫度范圍：-55℃～+150 ℃ (風冷式)

高溫室預熱溫度范圍：RT～+180℃

升溫時間：+50℃→+180℃ ≤40min

注：升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能

低溫室預冷溫度范圍：RT～-65℃

降溫時間：RT～-65℃ ≤90min

注：升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能

溫度波動度：±0.5℃

溫度偏差：±2.0℃

溫度恢復時間：≤5min；轉換溫度只需要≤10s（吊籃移動時間：3秒以內）

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