恒溫恒濕試驗室溫度范圍：-40～120℃是常用于通訊、光電、LED、電子等產(chǎn)品（如：光電產(chǎn)品、機算機整機或零配件、顯示器、觸摸屏、終端機、車用電子產(chǎn)品、主機板、電源供應(yīng)器、監(jiān)視器、交換式充電器、手機、電腦、照相機等）仿真出種高溫、低溫、高低溫交變、恒定、循環(huán)等惡劣溫度環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品可靠性、穩(wěn)定性的重試驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要試驗環(huán)節(jié)，高低溫步入式試驗箱、溫度范圍：-40～120℃廣泛生產(chǎn)企業(yè)的實驗室、計量院、研究所、高校實驗室、三方檢測機構(gòu)等域。
性能特點：
具有及寬的溫濕度控制范圍及尺寸大小可選擇，可滿足用戶的各種需要。采用*的平衡調(diào)溫調(diào)濕方式，可獲得安、的溫濕度環(huán)境。具有穩(wěn)定、平衡的加熱、加濕性能，可進行高精度、高穩(wěn)定的溫濕度控制。
裝配高精度智能化的溫度調(diào)節(jié)器，溫濕度采用韓進口液晶控制顯示2700大屏幕可程序儀表（也可根據(jù)用戶的需求更換日本、中中國臺灣、韓液晶顯示可程序儀表）。可選配溫濕度記錄儀。
根據(jù)功能需要，可選配計算機進行遠程控制。
內(nèi)門裝有大觀察窗設(shè)有1個尺寸為2000×1000 mm（寬×高）中空鋼化玻璃觀察窗，可方便觀察試驗品的試驗狀態(tài)。
技術(shù)參數(shù)可選擇如下：
溫度范圍:-70℃～＋85℃（100℃）、-40℃～＋80℃（100℃）、-20℃～＋80℃（100℃）、0℃～＋85℃（100℃）(可依客戶溫度范圍報價)
濕度范圍:30％RH～98％RH
升溫時間:由RT升至85℃約需30分鐘(RT是指環(huán)境溫度)
降溫時間:由RT降至-70℃約需90分鐘(RT是指環(huán)境溫度)
控制器容量及控制功能可使用：120組的程序量;可使用：1200段的段數(shù);可重復執(zhí)行命令：每個命令可達到999次.
恒溫恒濕試驗室符合標準:
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗
GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求