高低溫沖擊試驗箱常用于自動化零部件、電子電器零組件、汽車配件、通訊組件、金屬、塑膠等行業(yè)產(chǎn)品及零配件，半導體陶瓷、電子芯片IC及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復沖擊力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的實際質(zhì)量,從的IC到重機械的組件，不需要它作為理想的測試設備。
主要技術(shù)參數(shù)：
1．內(nèi)箱尺寸：600*500*500MM(W*H*D)（更大的尺寸或者更小的尺寸都可以致電愛佩定制）
2. 外部尺寸：1830*1950*1550 MM(W*H*D)（般外尺寸會有點點偏差屬于正常現(xiàn)象）
3．試驗箱溫度設定范圍：－65℃～+150℃
4．高溫箱溫度設定范圍: +65℃～200℃
5. 低溫箱溫度設定范圍:-10℃～-75℃；
6．降溫時間：+20℃～-75℃≤60min；
  （注：降溫時間為低溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能并非沖擊時間）
7．試驗方式：試驗時待測物試驗箱里靜靜的擺放著，溫度在高溫箱及低溫箱內(nèi)受試驗條件及控制器指標根據(jù)冷熱沖擊要求通過氣體分別把冷熱溫度帶動過來完成交替沖擊的試驗條件。
8．溫度波動度：±0.5℃
9．溫度均勻度: ±2.0℃
(依量測規(guī)范:量測SENSOR置放點,離內(nèi)箱壁內(nèi)尺寸1/10處)
10．沖擊復歸時間：-55℃～150℃約需3~5分鐘
11.試驗箱冷熱溫度轉(zhuǎn)換移動時間:≦10秒
12.高低溫沖擊恒溫時間各為30分鐘
13．試樣限制：本實驗設備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存；腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存；生物試樣的試驗或儲存；強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存。
高低溫沖擊試驗箱所滿足的標準有以下:
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分試驗方法 試驗A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導則;GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗;IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估;QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗般規(guī)則 汽車行業(yè)標標準等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標準。